כתבה
arXiv cs.LG ·
חיפוש מקודד מציג שבדיקה אקראית על גבי מכשירים תובעת טעויות קטלניות במעבדי גלי על-תפוח
Targeted search shows that random-device testing underestimates worst-case error in a simulated wave-based neural operator
במאמר זה, נבדקה שיטת שבדיקה אקראית על גבי מכשירים, ונמצא כי היא תובעת טעויות קטלניות במעבדי גלי על-תפוח. המחברים טענו כי שיטת שבדיקה זו תובעת טעויות קטלניות, וכי היא תובעת טעויות קטלניות במעבדי גלי על-תפוח. המחברים טענו כי שיטת שבדיקה זו תובעת טעויות קטלניות, וכי היא תובעת טעויות קטלניות במעבדי גלי על-תפוח.
תקציר מקורי באנגליתarXiv:2610.07529v1 Announce Type: new Abstract: Wave-based processors promise fast, energy-efficient Fourier layers for neural operators. They are usually validated on randomly sampled devices, but using them requires knowing how large their error can become under fabrication and alignment variation. In a stylised numerical case study, a hybrid Fourier neural operator runs its four spectral layers on simulated coherent 4f processors with 32 toleranced knobs, whose half-widths are representative rather than calibrated. For 120 models (four tasks, six training methods, five seeds), we compared the worst of N random in-spec devices with a searched one. On a deterministic simulator with one frozen draw of the random static errors, the searched device's held-out error was 1.08-3.10 times the ma
קרא במקור המקורי
arxiv.org
פתח כתבה מקורית